定制低溫真空系統(tǒng)
LabCool低溫測(cè)試裝置
超導(dǎo)杜瓦用背景磁體由背場(chǎng)低溫超導(dǎo)磁體單元、高溫超導(dǎo)帶材測(cè)試單元、測(cè)量與控制單元組成，可開(kāi)展超導(dǎo)帶材的通電實(shí)驗(yàn)，臨界電流測(cè)定實(shí)驗(yàn)，Ic劣化試驗(yàn)，帶材交流損失測(cè)定實(shí)驗(yàn)，帶材磁場(chǎng)特性實(shí)驗(yàn)，失超特性試驗(yàn)等帶材基礎(chǔ)性能檢測(cè)實(shí)驗(yàn)等。
LabCool低溫測(cè)試裝置
技術(shù)參數(shù)
| 指標(biāo) | 技術(shù)參數(shù) |
| 磁場(chǎng)強(qiáng)度 | 4T |
| 超導(dǎo)帶材冷卻溫度 | 20~77K可調(diào) |
| 超導(dǎo)帶材控溫精度 | ±0.1K |
| 帶材與背場(chǎng)磁場(chǎng)調(diào)整角度 | 可實(shí)現(xiàn)0~360° |
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